2010年7月31日(土) 06:16 JST

Keithley Instruments Inc.　　ケースレーインスツルメンツ株式会社

‘超速’Ｉ-Ｖ（電流-電圧）ﾓｼﾞｭｰﾙにより材料、デバイス、プロセスの３つの必須特性評価を１つの測定器に集約

先進電子計測器、システムの世界的リーダであるKeithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI)は、 4200-SCS型 半導体特性評価システムの既存の多様な測定オプションに、最新の機能として4225-PMU型 ‘超速’I-Vモジュールを発表しました。4200-SCS型は、これまで半導体業界における広範な電圧・電流レンジ立上り/立下り/パルス時間の要求に適時対応して参りました。今回、この環境に、強力な超高速の電圧波形発生および同時電流/電圧測定の機能を統合したことで、4200-SCS型による材料、デバイス、そしてプロセスの3つの評価の能力が劇的に拡充されました。

大切なポイントは、4225-PMU型によって、超速のI-V印加測定をDC測定のように簡単に行えるようにしたことです。
広範囲のプログラム可能な印加と測定レンジ（60ナノ秒パルスからの超高速電圧出力と同期された測定）パルス幅、そして立上り時間の卓越した性能により、ナノメータCMOSからフラッシュメモリなどまで各種試験アプリケーションに変革をもたらします。

製品に関するお問い合わせは、弊社担当営業またはこちらからお願いします。

メーカーURL　http://www.keithley.jp/products/currentvoltage/?mn=4200-SCS

最終更新日： 2010年2月24日(水) 15:16 JST; 597 閲覧件数